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掃描電鏡主要有以下幾種模式：

掃描電子顯微鏡（SEM）模式：主要用于表面形貌、微觀形貌、成分分析等方面的檢測和分析。

透射電子顯微鏡（TEM）模式：主要用于觀察材料的晶格結構、原子排列、微觀組織等方面的分析。

原子力顯微鏡（AFM）模式：主要用于表面形貌、微觀形貌、納米材料等方面的檢測和分析。

熒光光譜顯微鏡模式：主要用于材料的表面性質、光學特性等方面的分析。

臺式掃描電鏡

此外，還提供一系列配套的分析服務，如元素分析、粒徑分布、形貌分析、結晶形態分析等，以滿足不同領域的客戶需求。

以上就是安徽澤攸科技有限公司小編介紹的掃描電鏡模式。更多掃描電鏡價格及信息請咨詢