中文
English

透射電子顯微鏡（TEM）樣品桿是一個(gè)關(guān)鍵的部件，用于支持和定位樣品，以便在電子束穿透樣品時(shí)進(jìn)行觀察。通過調(diào)整樣品桿的高度和位置，可以確保樣品位于正確的位置，并且在TEM中能夠獲得清晰的圖像。下面是關(guān)于如何通過透射電鏡樣品桿控制樣品的高度和位置的一般步驟：

安全操作： 首先，請(qǐng)確保您已經(jīng)熟悉TEM的操作手冊(cè)，并遵循適當(dāng)?shù)陌踩僮饕?guī)程。

裝載樣品： 將您要觀察的樣品制備成薄片，并使用細(xì)致的操作將其安裝在樣品網(wǎng)格上。樣品網(wǎng)格是一種特殊設(shè)計(jì)的網(wǎng)格，可支持樣品并允許電子束穿透。

進(jìn)入樣品室： 打開TEM的樣品室，并將樣品網(wǎng)格插入樣品臺(tái)中。確保樣品網(wǎng)格插入的方向是正確的，以便在顯微鏡中觀察到所需的區(qū)域。

調(diào)整高度： 樣品桿通常具有可調(diào)節(jié)的高度機(jī)制，通過旋轉(zhuǎn)或移動(dòng)樣品桿，您可以將樣品移向或遠(yuǎn)離電子束路徑。使用微調(diào)裝置，慢慢調(diào)整樣品的高度，以確保樣品位于電子束的焦點(diǎn)平面。

對(duì)準(zhǔn)位置： 使用TEM中的控制器或操作面板，可以微調(diào)樣品的位置，確保樣品位于電子束的中心。您可以通過觀察電子束在樣品上的反射圖像來進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)。

對(duì)焦和調(diào)節(jié)： 調(diào)整透射電子顯微鏡的對(duì)焦和參數(shù)設(shè)置，以獲得清晰的圖像。您可以在樣品上尋找感興趣的區(qū)域，并通過調(diào)整顯微鏡的參數(shù)來優(yōu)化圖像質(zhì)量。

記錄和分析： 一旦樣品被正確定位和調(diào)整，您可以開始記錄和分析TEM圖像，以獲取有關(guān)樣品的詳細(xì)信息。

需要注意的是，TEM樣品的裝載和調(diào)整是精細(xì)而關(guān)鍵的過程，需要一定的技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)。在操作之前，建議您熟悉TEM的操作手冊(cè)，如果可能，尋求有經(jīng)驗(yàn)的操作員的指導(dǎo)。

透射電鏡原位拉伸樣品桿

以上就是澤攸科技小編分享的如何通過透射電鏡樣品桿控制樣品的高度和位置。更多樣品桿產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢