掃描電鏡中的低真空模式有何作用和優勢
日期：2023-10-08
掃描電鏡中的低真空模式是一種操作模式，通常用于特定樣品或情況下，具有一些特定的作用和優勢：
樣品準備靈活性： 低真空模式適用于未經金屬涂層的非導電或半導電樣品。這意味著您可以在不進行樣品導電涂層的情況下觀察這些樣品，從而減少樣品準備的復雜性和可能的偽像。
減少樣品損傷： 低真空模式通常使用較低的電子束能量，因此可以減少電子束對樣品表面的輻射損傷。這對于某些敏感樣品，如生物樣品或有機材料，非常重要。
減少樣品充電： 在低真空模式下，由于存在氣體分子，電子束與樣品之間的電荷交換更少，從而減少了樣品表面的電荷積累。這有助于減少圖像中的偽影和提高圖像質量。
非導電樣品的觀察： 低真空模式使得可以在不導電的樣品上進行觀察，這對于礦物學、地質學和生物學等領域的研究很有幫助。
適用于粗糙樣品： 低真空模式可以用于觀察表面粗糙或不均勻的樣品，因為它不會受到高真空模式下氣體抽取的限制。
以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡中的低真空模式有何作用和優勢。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢
TAG：
作者：澤攸科技
上一篇：掃描電鏡在材料疲勞和斷裂分析中的應用
下一篇：EDS（能譜分析）在掃描電鏡中的作用