臺式掃描電鏡（SEM）是一種強大的顯微鏡，可以用于高分辨率的表面成像和分析。以下是臺式掃描電鏡樣品處理的一般流程和注意事項：

樣品處理流程：

準備樣品： 根據實驗目的，選擇合適的樣品，并確保它們干凈、整潔。非導電樣品需要進行適當的前處理，以減輕充電效應。

固定樣品： 使用導電膠、樣品夾或其他方法將樣品固定在SEM樣品臺上，確保樣品穩定且與臺面良好接觸。

導電涂層（如果需要）： 對于非導電樣品，可以涂覆一層導電涂層，如金屬或碳，以減輕充電效應。

真空脫氣： 如果需要，將樣品放置在真空脫氣室中，以減少樣品表面的氣體分子，減輕充電問題。

調整樣品位置： 使用樣品臺移動功能將樣品位置調整到所需的位置，以便于觀察和分析。

調整焦距和對焦： 使用顯微鏡或SEM軟件來調整焦距，確保樣品處于清晰的成像狀態。

選擇成像參數： 根據實驗目的，選擇合適的電子束加速電壓、探針電流、掃描速度等成像參數。

成像： 開始成像過程，獲取所需區域的圖像。可以使用不同的成像模式，如二次電子成像和反射電子成像。

數據獲取： 根據需要，獲取表面形貌、元素分布等數據。

注意事項：

樣品清潔： 樣品表面的雜質、塵埃或污漬會影響成像質量，因此確保樣品表面干凈。

充電效應： 對于非導電樣品，要注意充電效應。可以使用導電涂層、低電子束能量等方法減輕充電效應。

樣品尺寸： 樣品尺寸應適合SEM樣品臺，并在臺面上穩定固定。

避免損壞： 在操作過程中避免樣品與SEM部件的直接接觸，以防止損壞。

低真空模式： 對于一些樣品，使用低真空模式可以減少氣體分子的影響，有助于克服充電問題。

避免過度曝曬： 高電子束能量和持續曝曬可能會對樣品造成傷害，因此要避免過度曝曬。

記錄參數： 記錄用于成像的參數，以便能夠重復實驗或分析。

樣品安全： 有些樣品可能具有毒性、放射性或其他安全風險，需要按照安全規定進行處理。

電鏡維護： 在使用后，及時關閉SEM，進行必要的清潔和維護，以保持設備的正常運行。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編分享的臺式掃描電鏡的樣品處理流程和注意事項。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢