掃描電鏡（SEM）通常用于觀察導電樣品，因為在常規(guī)的SEM操作中需要對樣品進行金屬導電涂層，以確保樣品表面電荷的平衡和電子的傳導。然而，對于非導電樣品，可以采取以下方法來進行觀察：

金屬導電涂層：對于非導電樣品，可以使用金屬導電涂層來提高樣品的導電性。常用的導電涂層材料包括金、鉑、銀等。通過在樣品表面均勻涂覆薄層的導電材料，可以改善樣品的導電性，從而使電子能夠傳導到樣品表面，實現(xiàn)SEM觀察。

環(huán)境SEM（Environmental SEM）：環(huán)境SEM可以在相對高壓下進行觀察，利用水蒸汽或氮氣等氣體來保護非導電樣品。環(huán)境SEM在觀察生物樣品、植物組織、聚合物等非導電樣品方面具有優(yōu)勢，因為它們無需進行導電涂層。

低真空模式：某些SEM系統(tǒng)具備低真空模式，允許在較低的真空條件下觀察非導電樣品。這種模式下，可以通過調節(jié)工作壓力和控制電子束的能量來減小電子與樣品之間的相互作用，從而避免非導電樣品的電荷積聚和漂移。

樣品制備技術：對于某些非導電樣品，可以采用特殊的樣品制備技術來增加其導電性。例如，通過切割、打磨、刻蝕等方法，可以在樣品表面形成導電層或導電區(qū)域，以便進行SEM觀察。

需要注意的是，對于非導電樣品的SEM觀察，仍然存在一些挑戰(zhàn)，如導電涂層的均勻性、樣品形貌的保持等。因此，在進行非導電樣品的SEM觀察時，選擇合適的方法和技術非常重要，以確保獲得準確和可靠的圖像和數(shù)據(jù)。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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