在掃描電鏡樣品制備過程中，常見問題可能會影響樣品的質量和觀察結果。以下是一些常見問題及其可能的解決方法：

樣品污染：樣品表面的污染物（如灰塵、油脂等）可能干擾到掃描電鏡觀察。解決方法包括在制備過程中保持清潔環境，使用無塵工作臺或干凈的實驗室條件，以及在樣品表面清洗或去除污染物。

樣品損傷：制備過程中，樣品可能會受到損傷，導致形貌變形或結構損壞。為避免樣品損傷，需要選擇適當的樣品制備方法，如使用合適的切割工具、磨削和拋光技術，并在制備過程中小心操作。

殘留溶劑或化學物質：制備樣品時使用的溶劑、固定劑或顯影劑可能會在樣品上留下殘留物，干擾掃描電鏡觀察。解決方法包括去除殘留物，例如通過洗滌、溶解或選擇更適合的化學制劑。

電荷積聚：某些樣品具有電導性差，容易在掃描電鏡中產生電荷積聚，導致圖像出現偽影。解決方法可以使用導電性涂層（如金屬薄膜或碳納米管）來增加樣品的導電性，或者通過較低的電子束電壓和較短的觀察時間來減少電荷積聚效應。

樣品選擇和準備不當：選擇不適合掃描電鏡觀察的樣品，或者在制備過程中未正確處理樣品，可能導致無法獲得清晰的圖像或無法準確觀察所需的結構。解決方法包括仔細選擇適合的樣品，了解樣品的特性和制備要求，并遵循正確的制備步驟和技術。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡樣品制備中的常見問題。更多掃描電鏡信息及價格請咨詢