掃描電鏡中常見的樣品充電效應如何解決

在掃描電鏡（SEM）?中，樣品充電效應是一個常見問題，特別是在觀察絕緣材料或低導電性樣品時。

掃描電鏡背散射電子成像的操作方法

背散射電子成像（BSE）是掃描電鏡（SEM）?中的一種重要成像技術，主要用于提供樣品成分對比和晶體取向信息。

調節和聚焦掃描電鏡（SEM）?的電子束是確保高質量圖像和準確分析的關鍵步驟。

結合掃描電鏡（SEM）?與拉曼光譜進行多模態成像可以提供樣品的形貌、元素分布及分子結構等多方面的信息，增強對樣品的了解。

多尺度分析是利用掃描電子顯微鏡（SEM）?從宏觀到微觀多個尺度上對樣品進行詳細觀察和分析的過程。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中進行聚焦和調整對比度是獲得高質量圖像的關鍵步驟。

選擇合適的掃描模式和放大倍率對于使用掃描電子顯微鏡（SEM）獲得高質量圖像和數據至關重要。

2024年7月19-23日，“2024年度北京市電子顯微學研討會暨第十三屆全國實驗室科學管理交流會”將在遼寧省丹東市舉行。