邀請函┃澤攸科技將參加第十一次華北五省市電子顯微學研討會及第十三屆全國實驗室協作服務交流會
7月21-25日,由華北五省電子顯微鏡學會和北京理化分析測試技術學會主辦的“第十一次華北五省市電子顯微學研討會及第十三屆全國實驗室協作服務交流會”將在陜西省延安市舉辦。
MORE INFO → 公司新聞 2023-07-19
7月21-25日,由華北五省電子顯微鏡學會和北京理化分析測試技術學會主辦的“第十一次華北五省市電子顯微學研討會及第十三屆全國實驗室協作服務交流會”將在陜西省延安市舉辦。
MORE INFO → 公司新聞 2023-07-19
樣品桿在科學實驗和儀器操作中起著重要的作用。它通常是一個可移動的桿狀組件,用于操縱、處理和定位樣品或探測器。
MORE INFO → 常見問題 2023-07-14
在科學實驗和儀器操作中,樣品桿(也稱為探頭桿或探測器桿)的調整是非常重要的,以確保準確的測量和樣品處理。
MORE INFO → 常見問題 2023-07-14
臺式掃描電鏡的分辨率通常在納米級別或亞納米級別。具體的分辨率取決于掃描電鏡的型號和制造商,不同的設備可能具有不同的分辨率規格。
MORE INFO → 行業動態 2023-07-14
在掃描電鏡中,如果樣品沒有進行金屬噴鍍或其他導電處理,可能會出現以下效果:
MORE INFO → 行業動態 2023-07-14
掃描電鏡對樣品的導電性有一定的要求。由于SEM使用電子束來觀察樣品表面,樣品的導電性對于獲取清晰的圖像和準確的表面形貌信息非常重要。
MORE INFO → 行業動態 2023-07-14
掃描電鏡的掃描速度與圖像分辨率之間存在一定的關系。
MORE INFO → 行業動態 2023-07-14
掃描電子顯微鏡(SEM)的深度焦點是指在一定的焦距范圍內,樣品不同位置的表面能夠同時保持清晰的能力。
MORE INFO → 行業動態 2023-07-11